1. Cu靶, λ=1.5406Å, 2.2kW
2. θ/θ测角仪：立式测角仪，样品水平放置
3. 2θ测试：0.5o - 140o
4. 阵列探测器，能量分辨率:优于1000eV

主要功能：
1. 多晶样品的物相定性分析，无标样定量分析，结构精修及粉末衍射解结构。多晶样品的非晶相含量定量分析，结晶度测定，晶粒尺寸，微观应力和择优取向等微结构分析以及指标化等。
2. 多晶薄膜样品的物相分析。
3. 多晶材料在不同温度下、充放电过程中的物相、晶胞参数、原子位置占有率以及微观应力等原位X射线衍射分析。

主要特色：
1.陶瓷X光管，铜靶，2.2kW，焦斑尺寸：0.4x12mm。
2.高精度θ/θ立式测角仪，采用光学编码技术，最小步长0.0001度，提供高质量衍射数据。
3.配备TWIN-TWIN双光路自动切换系统，可实现粉末样品与薄膜样品的测试光路自动切换。
4.DBO动态光路优化系统，该系统由自动发散狭缝、自动防空气散射刀口和动态探测器窗口三部分构成，其特点为：可控的仪器背景、低角度到高角度可靠的定量衍射信号、粉末样品的最优利用、快速和定量的数据采集、不需要探测器遮光器的可靠的低角度数据、更低的检出限 (包括非晶态)及软件完全自动控制的动态扫描。

1. 多晶薄膜分析附件
2. 毛细管小角散射分析附件
3. 原位电池测量装置
4. 低温原位分析附件，温度范围：-180oC -400oC