加速电压：200KV
放大倍数：25K-1030K
点分辨率：0.24nm
线分辨率：0.102nm
信息分辨率：0.14nm
样品倾斜角度:< ±30°
相机常数: 30-4500 mm；
电子枪：肖特基热场发射电子枪
球差系数Cs/色差系数Cc：1.2mm/1.2mm

能获取TEM高分辨像和选区电子衍射，能进行EDX能谱成分分析，STEM配备iDPC功能，利用三维重构软件进行样品形貌和元素的三维重构和分析。可用于材料的微观形貌观察、晶体结构和微区成分分析。可广泛应用于物理、化学、材料等领域的科研和教学。

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